Nanotech Microscopí­a Electrónica de Barrido

Para un entendimiento de las propiedades de los diferentes materiales, se debe tener un claro entendimiento de qué es lo que sucede a escala micrométrica y nanométrica en éstos. Actualmente, el Laboratorio de Microscopia Electrónica de Barrido cuenta con personal altamente calificado para llevar estudios microestructurales de los diferentes materiales que se desarrollan en el CIMAV.
Ya que el Microscopio se encuentra internamente equipado con diferentes detectores que colectan la energía y la transforman en señales y datos, es posible determinar la morfología, topografía, fases y la composición química mediante la semicuantificación elemental de los diversos materiales; ya sean aleaciones metálicas y no metálicas, cementos, cerámicos, vidrios, catalizadores, recubrimientos, etc.
Entonces, la actividad del Laboratorio se centra principalmente en la caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos de las distintas ramas de investigación que se llevan a cabo en el centro. Adicionalmente, da servicio a la industria mediante la caracterización sus materiales para la solución de problemas en sus procesos, determinación de contaminaciones o tipos de falla en los materiales, así como de mediciones; esto mediante servicios y/o proyectos que se realizan con las mismas. Lo anterior conlleva a la responsabilidad de la emisión de resultados altamente confiables, respaldados por un Sistema de Gestión de la Calidad fuertemente implementado en el centro.
Karla Campos Venegas
Responsable de laboratorio:
Karla Campos Venegas
Tel.
karla.campos@cimav.edu.mx
Contáctanos:
M.M. Salomón Maloof
Tel. +52 (614) 439 1191
salomon.maloof@cimav.edu.mx
Política de recepción de muestras
Servicios
  • Análisis de fases por Electrones Retrodispersados.
  • Análisis de morfologí­a por Electrones Secundarios.
  • Análisis elemental por EDS
  • Análisis elemental por EDS y morfología HITACHI SU3500
  • Análisis elemental por EDS y morfologia JSM 5800-LV
  • Mapeo elemental por EDS.
  • Mapeo en lí­nea por EDS.
Infraestructura
  • Microscopio Electrónico de Barrido HITACHI SU3500
  • Microscopio Electrónico de Barrido Marca JEOL Mod. JSM5800LV