Microscopí­a Electrónica de Barrido (MTY)

Nayely Pineda Aguilar
Responsable de laboratorio:
Nayely Pineda Aguilar
Tel.
nayely.pineda@cimav.edu.mx
Contáctanos:
M.C. Marisol Nevárez
Tel. +52 (81) 1156 0815
servicios.mty@cimav.edu.mx
Política de recepción de muestras
Servicios
  • Análisis elemental por EDS (Espectroscopia por Dispersión de Energí­a)
  • Analisis Microscopía Electrónica de Barrido, SEM
  • EDX Jeol JSM-6010PLUS/LA (S.interno)
  • EDX Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Line Scan o Perfil de concentración en Línea- Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Mapeo elemental de Rayos X- Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Mapeo Rayos X Jeol JSM-6010PLUS/LA (S.Interno)
  • Mediciones sobre micrografías (tamaños)- Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Mediciones sobre micrografías Jeol JSM-6010PLUS/LA (S.Interno)
  • Micrografías E. Retrodispersados-Immersion (5,000x-500,000x) Nova NanoSEM 200 (S.Interno)
  • Micrografías E.Retrodispersados Jeol JSM-6010PLUS/LA (S.Interno)
  • Micrografías E.Retrodispersados-Field Free (74x-5,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Micrografías E.Secundarios Jeol JSM-6010PLUS/LA (S.Interno)
  • Micrografías E.Secundarios-Field Free (74x-5,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Micrografías E.Secundarios-Immersion (5,000x-500,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Micrografías Inclinación 70grados o Transversal E.Secundarios- (5,000-500,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • Microscopía Electrónica de Barrido, SEM-EDX
  • Preparación de muestra SEM
  • Preparación de muestra STEM Interna
  • STEM- Campo Claro (Micrografías 5,000x-500,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • STEM- Campo Claro (Micrografías 74x-5,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • STEM- Campo Oscuro (5,000x-500,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
  • STEM- Campo Oscuro (Micrografías 74x-5,000x) Nova NanoSEM200 (S.Interno)
Infraestructura
  • Detector EDS o EDX
  • Microscopio Electrónico de Barrido Nova NanoSEM200
  • Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM-6010PLUS/LA