XPS, Auger y UPS (MTY)

Caracterización química superficial por espectroscopías XPS (X ray Photoelectron Spectroscopy), AES (Auger Electron Spectroscopy), UPS (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy), ARXPS (Angle resolved X ray Photoelectron Spectroscopy); mapeo químico, imagen SEM, ISS (Ion Scattering Spectroscopy), fractura in-situ y perfil de concentración.
Luis Gerardo Silva Vidaurri
Responsable de laboratorio:
Luis Gerardo Silva Vidaurri
luis.silva@cimav.edu.mx
Contáctanos:
M.C. Marisol Nevárez
Tel. +52 (81) 1156 0815
servicios.mty@cimav.edu.mx
Política de recepción de muestras
Servicios
  • Análisis Auger e imagen SEM
  • Análisis con resolución angular por medio de XPS
  • Análisis por medio de ISS
  • Análisis por medio de SAXPS
  • Análisis por medio de UPS
  • Análisis por REELS
  • Análisis por SAM
  • Análisis Simple de XPS
  • Compensación de carga
  • Enfriamiento / Calentamiento de muestra para su análisis por XPS, AES, UPS
  • Fractura de muestra para análisis
  • Imagen de SEM de muestra
  • Imagen Espectroscópica por medio de XPS
  • Imagen por XPS
  • Imagen Química por la técnica de AES
  • Perfil de concentración en profundidad por AES
  • Perfil de concentración en profundidad por XPS
  • Resolución angular por AES
Infraestructura
  • Escalab 250Xi