Escuela de Microscopía 2016

El curso provee los conceptos teóricos, experimentales y casos prácticos de las diferentes técnicas de la microscopia electrónica de transmisión. Las técnicas a ser impartidas son HREM, EFTEM, SAED, CBED, NBD, EELS y EDS. En el modo de barrido por transmisión, se impartirá la teoría y práctica acerca de la corrección de aberración esférica y los detectores de campo claro, campo oscuro y contraste Z (HAADF). También se mostrará información y equipos de la preparación de muestras.

Inscríbete

Orientado a principiantes y usuarios con poca experiencia en el uso de un SEM. Este curso teórico-práctico provee una introducción a la Microscopía Electrónica de Barrido, conceptos, principio de funcionamiento y casos prácticos.

Inscríbete

Se revisarán los fundamentos y aplicaciones de la tecnología de Haz de Iones Enfocado (FIB). La teoría de interacciones ion-sólido será introducida y utilizada para describir dichas metodologías en la preparación de muestras para SEM, TEM, AFM, Auger/XPS y SIMS. Son abordados otros tópicos como técnicas de fresado/deposición y caracterización analítica mediante FIB/SEM para nanotecnología.

Inscríbete

El curso le permitira identificar la información que puede obtenerse mediante la te cnica de Microscopía Raman, como son Fases, Temperatura, Cristalinidad, Orientación Cristalina, Esfuerzos y Cantidad de Material.

Inscríbete

Se abordará desde la generación y óptica de Rayos X, Ley de Bragg, y geometrías en la obtención de difractogramas así como prácticas con equipos difractómetros Panalitical X’ PertPRO, MPD y Bruker, D8 Advanced.

Inscríbete