En el Centro de Investigación en Materiales Avanzados por tercer año consecutivo se impartirán 5 cursos teórico-prácticos sobre microscopía especializada: TEM, SEM, RAMAN, FIB y Microscopía Óptica. Los cursos serán impartidos por reconocidos expertos nacionales e internacionales.
Este foro es un espacio donde académicos, investigadores, técnicos especializados y público relacionado con estas disciplinas podrán adquirir conocimientos acerca de las técnicas modernas de caracterización de materiales avanzados en general y de materiales nanoestructurados en particular.
Los cursos de microscopía se realizarán en la Ciudad de Chihuahua del 4 al 8 de septiembre en las instalaciones del Cimav (cupo limitado, fecha límite de inscricpción: 18 de agosto).
Para costos, inscripciones y mayor información comunicarse con: Luz García Campos al teléfono (614) 439 1130, al correo electrónico escuela.microscopia@cimav.edu.mx o visite la página https://cimav.edu.mx/microscopia/
CURSOS
Haz de Iones Enfocado (FIB)
4-6 de septiembre
Se revisarán los fundamentos y aplicaciones de la tecnología de Haz de Iones Enfocado (FIB). La teoría de interacciones ion-sólido será introducida y utilizada para describir dichas metodologías en la preparación de muestras para SEM, TEM, AFM, Auger/XPS y SIMS. Son abordados otros tópicos como técnicas de fresado/deposición y caracterización analítica mediante FIB/SEM para nanotecnología.
Espectroscopía Raman
7-8 de septiembre
El curso le permitirá identificar la información que puede obtenerse mediante la técnica de Microscopía Raman, como son Fases, Temperatura, Cristalinidad, Orientación Cristalina, Esfuerzos y Cantidad de Material.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) y Análisis elemental (EDS)
4-8 de septiembre
Orientado a principiantes y usuarios con poca experiencia en el uso de un SEM. Este curso teórico-práctico provee una introducción a la Microscopía Electrónica de Barrido, conceptos, principio de funcionamiento y casos prácticos.
Microscopía Óptica
4-6 de septiembre
En este curso se revisarán conceptos que abarcan desde la teoría de la microscopía óptica básica hasta los principios y teoría de la microscopía confocal. La obtención de imágenes y la preparación de muestras serán abordadas de manera práctica; se hará énfasis en la preparación y caracterización de muestras para microscopía metalográfica (tamaño de grano, % fases, inclusiones no metálicas, grafito, etc.) y microscopía confocal así como sus aplicaciones en ciencia de materiales y en ciencias.
Microscopía Electrónica de Transmisión (HRTEM y STEM)
4-8 de septiembre
El curso provee los conceptos teóricos, experimentales y casos prácticos de las diferentes técnicas de la microscopía electrónica de transmisión. Las técnicas que se impartirán son: HREM, EFTEM, SAED, CBED, NBD, EELS y EDS. En el modo de barrido por transmisión, se impartirá la teoría y práctica acerca de la corrección de aberración esférica y los detectores de campo claro, campo oscuro y contraste Z (HAADF). También se mostrará información y equipos de la preparación de muestras.