Seminario “Estudio de Propiedades Ferroeléctricas Locales Mediante Microscopía de Fuerza atómica”

Resumen

En la actualidad los materiales ferroeléctricos son utilizados en una gran variedad de dispositivos, los cuales tienden cada vez a ser mas pequeños, razón por la cual, se requiere conocer las características de estos materiales a escalas micro e incluso nanométricas. Una herramienta que permite este tipo de caracterizaciones es la microscopía de fuerza atómica (AFM por sus siglas en inglés Atomic Force Microscopy), en particular en el modo de Piezorespuesta de fuerza atómica (PFM del inglés Piezoresponse Force Microscopy) el cual permite no solo visualizar los dominios ferroeléctricos sino que también se pueden manipular estas configuraciones de dominios y estudiar su comportamiento al aplicarles campos eléctricos. Existen muchas variantes del PFM y en los últimos años esta técnica ha evolucionado enormemente debido principalmente a la necesidad evitar obtener mediciones erróneas causadas por los llamados artefactos o ruidos provenientes de diversos orígenes. En este trabajo se presentaran algunas formas de obtener imágenes de dominios por medio del AFM, además se mostrará el comportamiento de sondas rígidas y suaves en la microscopía PFM. Por ultimo, se darán algunas estrategias para distinguir entre contribuciones no ferroeléctricas y las ferroeléctricas en las caracterizaciones de piezorespuesta de fuerza atómica.