Seminario “Difracción de electrones con haz nano-métrico en modo STEM”

Por este medio hacemos extensiva la invitación a participar en el Seminario del Programa de Ciencia de Materiales, este viernes 27 de abril del 2018 a las 12:00 hrs. La seminario tendrá lugar en la Sala de Seminarios ubicada en el Edificio de Posgrado.
En esta ocasión tendremos la oportunidad de discutir un tema de actualidad:

“Difracción de electrones con haz nano-métrico en modo STEM”
[Nanobeam electron diffraction (NBED) in STEM mode]

impartido por el

Prof. F. Paraguay-Delgado
Investigador del Cimav


Resumen

La difracción de electrones implementada en la microscopia electrónica de transmisión es una técnica útil en la caracterización de materiales. En el estudio de nano-materiales, es de importancia caracterizar las partículas individualmente. Debido a las dimensiones de las nano-partículas es necesario obtener un haz paralelo de electrones, del orden de las partículas. Con esta técnica se puede caracterizar cada partícula o partes de una nano- partícula. Por ello, en la presente plática se mostrará la configuración de la óptica electrónica para la difracción de electrones con haz nano-métrico (NBD) en modo STEM, para diferentes microscopios electrónicos. También, se mostrarán ejemplos de los materiales estudiados; y se discutirá las perspectivas de esta técnica en el futuro.