Los días 1 y 2 de octubre de 2026, el Centro de Investigación en Materiales Avanzados (CIMAV), sede Chihuahua, realizó el 2.º Foro Internacional de Semiconductores y Electrónica Avanzada, bajo el lema “Construyendo el Ecosistema Binacional para el Diseño, Caracterización y Prueba de Semiconductores”. Durante dos jornadas, se desarrollaron conferencias, seminarios, talleres prácticos y demostraciones tecnológicas para compartir conocimientos y fortalecer la vinculación en este sector.
El presídium inaugural estuvo integrado por la Dra. Leticia M. Torres Guerra, directora general del CIMAV; el Mtro. Fernando de Alba Quiñones, subsecretario de la Secretaría de Innovación y Desarrollo Económico del Estado de Chihuahua; el Mtro. Francisco Javier Turati Muñoz, del Instituto de Innovación y Competitividad; el Ing. Sergio Mancinas y el Mtro. Heber E. Terrazas, de INADET/CENALTEC; el Lic. René Espinosa Terrazas, presidente de Index Chihuahua; el Ing. Jesús Carrillo, presidente del Clúster Electrónico; y el Ing. Aldo Díaz de León, de Keysight.
Tras la ceremonia de inauguración, el programa del jueves inició con la conferencia magistral “Chihuahua como Hub Estratégico para el Desarrollo de la Industria de Semiconductores en México”, a cargo del Mtro. Fernando de Alba Quiñones. Posteriormente, el Dr. Manuel Quevedo, de la Universidad de Texas en Dallas, impartió el seminario internacional teórico “Fundamentos de Medición Eléctrica para la Caracterización de Semiconductores”.
La jornada también incluyó la conferencia magistral “El Futuro de la Caracterización y Prueba de Semiconductores”, presentada por el Ing. Pablo Bernal, líder del equipo de Ingenieros de Aplicaciones de Keysight Technologies. Asimismo, se contó con el laboratorio abierto “Soluciones Keysight para la Caracterización y Prueba de Semiconductores”, con demostraciones tecnológicas de Keysight Technologies, la Universidad de Texas en Dallas y el CIMAV.
El viernes se dio continuidad al componente práctico mediante el seminario internacional “Prácticas Avanzadas de Caracterización Eléctrica con Instrumentación Keysight”, dirigido por el Dr. Manuel Quevedo y el Ing. Raúl Trujillo. Además, se realizaron tres sesiones del taller “Hands on”, en las que las y los participantes tuvieron un acercamiento directo a la instrumentación y a los procesos de caracterización eléctrica.
Como parte de las conferencias de esta segunda jornada, Jesús Carrillo Armenta, presidente del Clúster Electrónico, presentó “ATP: El eslabón estratégico de la cadena de semiconductores y la oportunidad para México”. El programa concluyó con la conferencia inspiracional “Mi Experiencia en el Diplomado Internacional de Semiconductores”, a cargo del Dr. Ildebrando Pérez Reyes, egresado destacado de este programa de formación.
Con este foro, el CIMAV abrió un espacio de intercambio entre instituciones académicas, representantes gubernamentales y empresas, orientado a la formación de talento y al fortalecimiento de las capacidades de diseño, caracterización y prueba de semiconductores en la región.