Duración
24 horas
Instructor
Dr. Óscar Solís Canto
Objetivo
Este curso proporciona los fundamentos, conceptos y aplicaciones básica de la Microscopía de Fuerza Atómica, AFM, así como las técnicas más importantes derivadas de éstas, con el fin de desarrollar en el alumno participante, habilidades en la definición de metodologías relacionadas con el estudio y caracterización de materiales por medio de éstas técnicas de superficie.
Descripción.
Se proporcionará una introducción a la caracterización de propiedades de superficie en la escala nanométrica a través de la interacción de una sonda de análisis con la superficie bajo estudio, por medio de la Microscopía de Fuerza Atómica, AFM.
Para ello se abordarán los fundamentos físicos que permitan describir las fuerzas presentes en la interacción sonda-muestra, y los diversos métodos de análisis que proporcionan información no solo de las características topográficas de la superficie sino también físicas como la conductividad eléctrica, piezorespuesta, magnéticas, etc., a través del análisis de imágenes y espectros. Se abordaron tópicos acerca del mapeo y medición de propiedades topográficas, morfológicas de diversas superficies.
1. Fundamentos del funcionamiento
Principios Físicos de AFM
Modos de Operación
Sondas de análisis
2. Operación de un AFM
Modo Contacto
Modo dinámico
Modo no-contacto
3. Preparación de muestras
Selección de muestra
Tipos de Montaje
4. Alcances y limitaciones de las técnicas
Instrumentación
Buenas prácticas de Laboratorio
5. Interpretación de Resultados
Procesamiento de imágenes AFM
Interpretación de imágenes de AFM
Cálculos
6. Casos Prácticos
Análisis Topográfico (modo contacto y dinámico)
Curvas de Fuerza
Para mayor información puedes comunicarte a:
capacitacion@cimav.edu.mx
614 4391196