Objetivo
Proporcionar los principios teórico-prácticos y alcances de la microscopía electrónica de barrido-energía dispersiva de rayos X, para la caracterización morfológica-química de la superficie de un material.
Instructora
Dra. Nayely Pineda Aguilar
Temario
Día 1
- Teoría (3 horas)
- Introducción a la Microscopía Electrónica de Barrido
- Componentes SEM: fuente de electrones, lentes electromagnéticas, formación de imagen, modos de operación
- Práctica 1: reconocimiento de las partes del equipo (2 horas)
Día 2
- Teoría (2 horas)
- Interacción: Haz-muestra y señales: electrones secundarios y retrodispersados
- Preparación de muestras
- Práctica 2: operación general del equipo. Análisis morfológico de muestra conductora: aleación o muestra metálica, usando todos los detectores disponibles (4 horas)
Día 3
- Teoría (2 horas)
- Fundamentos de energía dispersiva de rayos X (EDS) (1 hora)
- Práctica (4 horas)
- Práctica 3: análisis morfológico de una muestra semiconductora o aislante, usando todos los detectores disponibles
- Práctica 4: composición química de una muestra: general, puntual y mapeo químico
Para mayor información puedes comunicarte a:
capacitacion@cimav.edu.mx
614 4391196