Curso de Difracción de Rayos X

Área:

Laboratorio y talleres: Difracción de rayos X


Dirigido a:

Público


Duración:

20 horas (5 días).


Precio

Precio por persona: $10,000 pesos + IVA
Para grupos de 3 personas o más, el precio por persona es de $8,000.00 +IVA


Modalidad

Virtual y presencial


OBJETIVOS DEL CURSO

Objetivo general

Proporcionar conocimientos teóricos y prácticos sobre la técnica de caracterización mineralógica de Difracción de Rayos X, mediante métodos cualitativos y cuantitativos en la detección de fases cristalográficas.

Objetivos específicos

Conocer los conceptos teóricos de la cristalografía
Conocer el concepto de Difracción de rayos X, técnicas y mediciones que se requieren para medir muestras.
Indexación y cuantificación de fases cristalográficas
Análisis de resultados de difractogramas


ALCANCE

Curso-Taller de Difracción de rayos X y cristalografía.

Tema 1. CRISTALOGRAFÍA
a. PRESENTACIÓN
b. CONCEPTOS FUNDAMENTALES (CONOCIMIENTOS PREVIOS Y DE REPASO)

  • Introducción
  • Geometría cristalina
  • Bases y redes
  • Sistemas cristalinos
  • Celdas y redes de Bravais
  • Índices de Miller y familia de planos
  • Representación de direcciones en el espacio
  • Proyección estereográfica de cristales
  • Simetría
  • Grupos espaciales
  • Grupos puntuales en proyección estereográfica y sus clases
  • Temas selectos de especialidad

Tema 2. DIFRACCIÓN DE RAYOS X 8 HORAS
a. Conceptos electromagnéticos (Repaso)

  • Ecuaciones de Maxwell
  • Ley de Coulomb
  • Ondas electromagnéticas

b. Conceptos de Difracción

  • Difracción en dos rejillas
  • Ley de Brag
  • Rayos X, electrones y Neutrones

c. Métodos de Difracción

  • Dispersión angular y energética
  • Monocristales, policristales y cristales amorfos
  • Método de Laue
  • Cristal giratorio
  • Polvos

d. Teoría práctica

  • Componentes de un Difractómetro
  • Radiación y fotones en la medición
  • Condiciones de medición de un difractograma
  • Tópicos selectos de especialidad

TEMA 3. RIETVELD

  • Teoría y calculo
  • Concepto
  • Enfoque y propósito
  • Programas para Rietveld
  • Indexación de fases cristalinas
  • Mediciones y estrategia de refinamiento
  • Temas selectos de especialidad

Capacitador:


Ing. Andres Isaak González Jacquez
Laboratorio de Difracción de rayos X
e-mail 🖂:
andres.gonzalez@cimav.edu.mx
Teléfono 🕿:
614 4391110 (Oficina) y
614 4277005

Para mayor información puedes comunicarte a:
capacitacion@cimav.edu.mx
614 4391196