Área:
Nanotech
Dirigido a:
Personal técnico.
Duración:
20 horas
OBJETIVOS DEL CURSO
Objetivo general
Proporcionar conocimientos básicos para llevar a cabo el proceso del análisis de muestras mediante Microscopía Electrónica de Barrido.
Objetivos específicos
Conocer el principio de funcionamiento de un Microscopio Electrónico de Barrido.
Adquirir habilidades en la operación del Microscopio Electrónico de Barrido.
ALCANCE
Curso teórico del fundamento de la Microscopía Electrónica de Barrido y prácticas en la operación del Microscopio Electrónico de Barrido.
CONTENIDO DEL CURSO
Desglose Temático del Aprendizaje
Tema I: Introducción a la Microscopía Electrónica de Barrido
Generalidades de la Microscopía Electrónica de Barrido
Tema II: Constitución de un Microscopio Electrónico de Barrido
Sistema de vacío
Cañón de Electrones
Columna y haz de electrones
- Lentes condensadoras, LC
- Lente objetiva, LO
- Aperturas
- Efecto de la apertura en el haz de electrones
- Efecto de la distancia de trabajo, WD, en el haz de electrones
- Efecto de la corriente de la Lente Condensadora en el haz de electrones
Tipos de aberraciones
Tema III: Interacción haz-muestra
Tipos de Dispersión
Volumen de Interacción
Tema IV: Tipos se señales
Electrones Secundarios, SE
Electrones Retrodispersados, BSE
Tema V: Formación de Imagen
Área escaneada
Magnificación
Tema VI: Preparación de muestras
Descripción de técnicas básicas para la preparación de muestras.
Tema VII: Espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDS)
Introducción a la Espectroscopía de energía dispersiva de rayo X (EDS).
El detector EDS, su funcionamiento y cuidados.
Efectos instrumentales en el espectro EDS.
Capacitadores:
M.C. Karla Campos Venegas
karla.campos@cimav.edu.mx
Dr. César C. Leyva Porras
cesar.leyva@cimav.edu.mx
Para mayor información puedes comunicarte a:
capacitacion@cimav.edu.mx
614 4391196