Curso teórico-práctico intermedio de Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)

Área:

Nanotech


Dirigido a:

Personal técnico.


Objetivo general

Proporcionar conocimientos teórico-prácticos para llevar a cabo el proceso del análisis de muestras mediante Microscopía Electrónica de Barrido.


Objetivos específicos

– Conocer el principio de funcionamiento de un Microscopio Electrónico de Barrido.
– Conocer los alcances de la técnica para el análisis de muestras de interés del cliente.
– Adquirir habilidades en la operación del Microscopio Electrónico de Barrido.


Alcance

Curso teórico del fundamento de la Microscopía Electrónica de Barrido y prácticas en la operación del microscopio electrónico de barrido, con énfasis en el análisis de muestras de su interés del cliente.


Contenido del curso

Tema I. Introducción a la Microscopía Electrónica de Barrido

  • Generalidades de la Microscopía Electrónica de Barrido

Tema II. Constitución de un Microscopio Electrónico de Barrido

  • Sistema de vacío
  • Cañón de Electrones
    • – Termoiónico de W
  • Columna y haz de electrones
    • – Lentes condensadoras, LC
    • – Lente objetiva, LO
    • – Aperturas
    • – Efecto de la apertura en el haz de electrones
    • – Efecto de la distancia de trabajo, WD, en el haz de electrones
    • – Efecto de la corriente de la Lente Condensadora en el haz de electrones
  • Tipos de aberraciones
  • Bobinas de Barrido

Tema III. Interacción haz-muestra

  • Tipos de Dispersión
  • Volumen de Interacción

Tema IV. Tipos se señales

  • Electrones Secundarios, SE
  • Electrones Retrodispersados, BSE

Tema V: Formación de Imagen

  • Área escaneada
  • Magnificación

Tema VI: Modos de operación

  • Profundidad de campo
  • Alta corriente
  • Resolución
  • Bajo voltaje
  • Bajo vacío

Tema VII: Defectos de imagen asociados a la naturaleza y preparación de la muestra

  • Efecto de carga
  • Daño por radiación
  • Contaminación

Tema VIII: Preparación de muestras

  • Descripción de técnicas básicas y avanzadas para la preparación de muestras.

Tema IX: Espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDS)

  • Introducción a la Espectroscopía de energía dispersiva de rayo X (EDS).
  • El detector EDS, su funcionamiento y cuidados.
  • Efectos instrumentales en el espectro EDS.

Responsables de Laboratorio:

M.C. Karla Campos Venegas
karla.campos@cimav.edu.mx


Dr. César C. Leyva Porras
cesar.leyva@cimav.edu.mx

Para mayor información puedes comunicarte a:
capacitacion@cimav.edu.mx
614 4391196