Impartido por

Dr. Francisco Paraguay-Delgado
10 horas de clase

Fundamentos de la difracción: interferencia, suma y resta de ondas, ley de Bragg.
Necesidad de distintas longitudes de onda para difracción: Tipos de longitudes de onda es necesario para hacer difracción y obtener datos.
Breve revisión de cristalografía: cristales, distancias interplanares, índices de Miller
Generación y propiedades de los rayos-X: historia de su descubrimiento, radiación continua y característica, absorción, dispersión y difracción.
Producción de rayos-X monocromática: elección de las condiciones de la fuente, uso de filtros β, detectores proporcionales y selección de altura de pulso, monocromadores, uso de detectores de estado sólido y de área.
Componentes del patrón de difracción: reflexión, posiciones e intensidades, índices de Miller y celda unitaria, efectos de dispersión y fluorescencia. Obtención de datos usando ley de Bragg.
Difractómetros y configuraciones: difractometro de polvo, disposición óptica, factores que afectan el ancho del perfil instrumental, elección y función de la rendija de divergencia, calibración y alineación, detectores y óptica de rayos-X.
Adquisición de buenos datos de difracción: técnicas de preparación de muestras y medición de patrones de polvo, películas delgadas utilizando métodos de difractómetro.
Identificación de fase cualitativa: el archivo Powder Diffraction FileTM (PDF®), la calidad de los patrones de referencia, varios métodos de búsqueda/coincidencia, estrategias de análisis de datos para obtener resultados superiores.
Practica: Análisis de distintos tipos de patrones de difracción de rayos-X. Mencionar el uso de algunos software más recientes.

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