Nanotech Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo
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Responsable de laboratorio:
César Cutberto Leyva Porras
cesar.leyva@cimav.edu.mx
Contáctanos:César Cutberto Leyva Porras
cesar.leyva@cimav.edu.mx
M.M. Salomón Maloof
Tel. +52 (614) 439 1191
salomon.maloof@cimav.edu.mx
Política de recepción de muestras
Servicios
- Análisis de fases por Electrones Retrodispersados.
- Análisis de morfología y de elemento por EDS
- Análisis de morfología por Electrones Secundarios LEI.
- Análisis de morfología por Electrones Secundarios SEI
- Analisis por EDS
- Elaboración de reporte de análisis
- Preparacion de muestra por CP
- Recubrimiento de muestras por Sputtering
Infraestructura
- MEB Hitachi TM 4000 plus
- Microscopio de Barrido de Emisión de Campo JSM7401F
- Recubridor de muestras