Nanotech Microscopí­a Electrónica de Barrido de Emisión de Campo

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César Cutberto Leyva Porras
Responsable de laboratorio:
César Cutberto Leyva Porras
cesar.leyva@cimav.edu.mx
Contáctanos:
M.M. Salomón Maloof
Tel. +52 (614) 439 1191
salomon.maloof@cimav.edu.mx
Política de recepción de muestras
Servicios
  • Análisis de fases por Electrones Retrodispersados.
  • Análisis de morfología y de elemento por EDS
  • Análisis de morfologí­a por Electrones Secundarios LEI.
  • Análisis de morfologí­a por Electrones Secundarios SEI
  • Analisis por EDS
  • Elaboración de reporte de análisis
  • Preparacion de muestra por CP
  • Recubrimiento de muestras por Sputtering
Infraestructura
  • MEB Hitachi TM 4000 plus
  • Microscopio de Barrido de Emisión de Campo JSM7401F
  • Recubridor de muestras