En el laboratorio se cuenta con un microscopio de fuerza atómica (AFM) de vanguardia para el análisis superficial con alta resolución espacial de materiales poliméricos, semiconductores, metálicos, recubrimientos, películas delgadas, muestras biológicas, materiales cerámicos, etc.
Contacto Responsable:
Dr. Oscar Vega
Vinculación Tecnológica::
M.C. Jesus Alejandro Arizpe Zapata
Tel. +52 (81) 1156 0815
servicios.mty@cimav.edu.mx
Oferta de servicios
- Técnicas de contacto o tapping.
- Visualización de características topográficas (imágenes 2D y 3D) y texturales en secciones de hasta 90 x 90 µm.
- Cuantificación de rugosidad (Ra, Rq, RMS).
- Perfil de alturas (espesor de recubrimientos, grosor de hojuelas, escalones, etc.).
- Identificación de interfaces y/o distribución de componentes en matrices poliméricas.
- Distribución de dominios magnéticos (magnetismo inherente de superficie).
- Nanoindentación (dureza, módulo elástico reducido, tenacidad a la fractura).
- Nanoscratch (coeficiente de fricción, de adherencia y de laminación)
Infraestructura
Microscopio de fuerza atómica MFP3D-SA marca ASYLUM RESEARCH
- Barrido X,Y: hasta 90 µm
- Barrido Z: hasta 15 µm
- Técnicas de operación: topografía modo contacto, topografía modo AC (Tapping),
MFM, KPFM, EFM
Nanoindentador Modelo TI 950 Marca HYSITRON
- Barrido X, Y: hasta 100 µm
- Barrido Z: hasta 15 µm
- Transductor 1D (Nanoindentación): carga máxima de 30 mN
- Transductor 2D (Nanoscratch): carga máxima de 15 mN y
desplazamiento lateral máximo de 15 µm
- Puntas de diamante: Typo Berkovich (142.3° ángulo total), cube corner (90°), conical (90°)