En el laboratorio se lleva a cabo la identificación y semicuantificación de compuestos cristalinos en una gran diversidad de materiales: metales, cerámicos, polímeros, intermetálicos, minerales u otros compuestos orgánicos e inorgánicos. La difracción de rayos X es una técnica analítica muy importante también utilizada en la caracterización mineralógica de muestras naturales.
Contacto Responsable:
Alonso Concha Balderrama
Vinculación Tecnológica:
M.C. Jesús Alejandro Arizpe Zapata
Tel. +52 (81) 1156 0815
servicios.mty@cimav.edu.mx
Oferta de servicios
- Cuantificación de las fases cristalinas presentes en el cemento.
- Determinación del grado de corrosión mediante la identificación y cuantificación de los óxidos incrustados en un metal o en una aleación.
- Identificación de la presencia de hidratos y polimorfos de los ingredientes activos en un medicamento.
- Cuantificación de la cantidad de fase amorfa presente en un material sólido, a través del método de refinamiento de Rietveld.
Infraestructura
Difractómetro de Rayos-X Panalytical Empyrean)
- Fuente de rayos X de Cu (Ka = 1.5405 Å)
- Sistema PreFix de pre-alineado
- Rejillas Soller de 0.04 rad
- Rejillas de divergencia programables
- Detector ultra-rápido X´Celerator basado en tecnología multipaso en tiempo real
- Goniómetro con configuración Bragg-Bretano
- Estación de trabajo para muestras sólidas
- Estación de trabajo para películas delgadas (Haz Rasante)
- Estación de trabajo para medición por transmisión
- Colimador de haz difractado de 0.18°
- Espejo de enfoque de Cu