Nanotech TEM JEOL JEM 2200FS+CS
Microscopio Electronico de Transmision de Alta Resolucion
Responsable de laboratorio:
Marco Antonio Ruiz Esparza
marco.ruiz@cimav.edu.mx
Contáctanos:Marco Antonio Ruiz Esparza
marco.ruiz@cimav.edu.mx
M.M. Salomón Maloof
Tel. +52 (614) 439 1191
salomon.maloof@cimav.edu.mx
Política de recepción de muestras
Servicios
- Alta Resolución (HRTEM modo STEM)
- Alta Resolución (HRTEM modo TEM)
- Análisis de Morfología en Campo Claro (CC modo STEM)
- Análisis de Morfología en Campo Claro (CC modo TEM)
- Análisis de Morfología en Campo Oscuro (CO modo TEM)
- Análisis de Morfología en Contraste Z (HAADF modo STEM)
- Analisis de Resultados
- Análisis Elemental por EDS (EDS modo STEM)
- Análisis Elemental por EDS (EDS modo TEM)
- Análisis por Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS
- Análisis por Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS (1Hr)
- Análisis por Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS (Incluye preparación por FIB)
- Espectroscopia por pérdida de Energía (EELS modo STEM)
- Espectroscopia por pérdida de Energía (EFTEM modo TEM)
- HRTEM
- Limpieza con Plasma
- Mapeo Elemental por EDS (EDS modo STEM)
- Mapeo en Línea por EDS (EDS modo STEM)
- Patrón de Difracción de Nano haz (NBD Modo TEM)
- Patrón de Difracción haz Convergente (CBD modo TEM)
- Patrón de Difracción haz Paralelo (SAD modo TEM)
- STEM
Infraestructura
- EDS Explore Oxford 80
- Microscopio Electronico de Alta Resolucion
- Plasma Cleaner