Nanotech TEM JEOL JEM 2200FS+CS

Microscopio Electronico de Transmision de Alta Resolucion
Carlos Elías Ornelas Gutiérrez
Responsable de laboratorio:
Carlos Elías Ornelas Gutiérrez
carlos.ornelas@cimav.edu.mx
Contáctanos:
M.M. Salomón Maloof
Tel. +52 (614) 439 1191
salomon.maloof@cimav.edu.mx
Política de recepción de muestras
Servicios
  • Alta Resolución (HRTEM modo STEM)
  • Alta Resolución (HRTEM modo TEM)
  • Análisis a Bajos Voltajes de Aceleración Modo STEM (160KV)
  • Análisis a Bajos Voltajes de Aceleración Modo TEM (160KV, 120KV, 100KV, 80 KV)
  • Análisis con Temperatura (Calentamiento o Crio-TEM)
  • Análisis de Morfología en Campo Claro (CC modo STEM)
  • Análisis de Morfología en Campo Claro (CC modo TEM)
  • Análisis de Morfología en Campo Oscuro (CO modo STEM)
  • Análisis de Morfología en Campo Oscuro (CO modo TEM)
  • Análisis de Morfología en Contraste Z (HAADF modo STEM)
  • Analisis de Resultados
  • Análisis Elemental por EDS (EDS modo STEM)
  • Análisis Elemental por EDS (EDS modo TEM)
  • Análisis Elemental por EELS (EELS modo TEM)
  • Análisis por Microscopía Electrónica con Microscopio JEOL 2200Fs+Cs con Corrector de aberración Esférica en el modo STEM
  • Análisis por Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS
  • Análisis por Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS (1Hr)
  • Análisis por Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo, JEM-2200FS (Incluye preparación por FIB)
  • Espectroscopia por pérdida de Energía (EELS modo STEM)
  • Espectroscopia por pérdida de Energía (EFTEM modo TEM)
  • HRTEM
  • Limpieza con Plasma
  • Mapeo Elemental por EDS (EDS modo STEM)
  • Mapeo en Línea por EDS (EDS modo STEM)
  • Mapeo por espectroscopia de pérdida de energía (EELS modo STEM)
  • Mapeos Elementales con Filtro Omega (EFTEM modo TEM)
  • Patrón de Difracción de Nano haz (NBD Modo TEM)
  • Patrón de Difracción haz Convergente (CBD modo TEM)
  • Patrón de Difracción haz Paralelo (SAD modo TEM)
  • Preparacion de Muestra para HRTEM
  • Preparación de muestras para Microscopía Electrónica
  • STEM
Infraestructura
  • Microscopio Electronico de Alta Resolucion
  • Plasma Cleaner