Laboratorio de Análisis de Superficies e Interfaces XPS, AES, UPS

Mty-AT

Este laboratorio cuenta con el equipamiento de análisis multitécnica, el cual permite estudiar la composición química en la superficie de muestras sólidas como lo son: recubrimientos y películas delgadas, cerámicos, polvos, semiconductores, polímeros, biomateriales, nanomateriales y nanoestructuras.
Mty-XPS
Contacto Responsables:
M. C. Gerardo Silva

Contáctanos:
Dra. Sandra Mendiola
Tel. +52 (81) 1156 0815
servicios.mty@cimav.edu.mx

Oferta de servicios
  • Imagen cuantitativa y análisis por espectroscopía fotoelectrónica emitida por rayos X (ESCA), lo cual permite la identificación elemental superficial hasta su estado de oxidación.
  • Perfil de concentración (Depth Profile), se realiza el análisis de recubrimientos y películas delgadas sencillas y multicapa para conocer la difusión y porcentaje de especies involucradas.
  • Fractura in-situ.
  • Análisis de corrosión y difusión.
  • Imagen paralela rápida (XPI).
  • Resolución de energía.
  • Análisis de aislantes y semiconductores.
  • Perfiles de concentración XPS de ángulo resuelto (ARXPS).
  • Espectroscopía de pérdida de energía electrónica reflejada (REELS).
  • Espectroscopía de dispersión iónica (ISS).
  • Espectroscopía electrónica Auger (AES, SEM, SAM).
  • Espectroscopía fotoelectrónica ultravioleta (UPS).
  • Espectroscopía de área grande y pequeña (LAXPS & SAXPS).
  • Análisis de falla.
Infraestructura
XPS Escalab 250Xi (Thermofisher)
  • Analizador hemisférico de 180° doble enfoque
  • Fuente de rayos X de aluminio monocromado (1486.68 eV, WF: 4.2eV)
  • Lentes magnéticas y electrostáticas
  • Arreglo de 6 analizadores channeltron (multiplicadores fotoelectrónicos)
  • Detector de imagen 2D
  • Cañón de electrones con microenfoque (Schottky FEG gun) para análisis Auger, micrografías SEM
  • Cañón de compensación de carga (flood gun) con capacidad para realizar análisis REELS e imagen electrónica
  • Cañón de iones para realizar perfiles de concentración, limpieza de muestras y espectroscopías ISS
  • Lámpara de descarga UV de gas He (HeI 21.22eV y HeII 40.81eV) para análisis UPS
  • Cámara de fractura in-situ
  • Calentamiento-enfriamiento de muestra