phone +52 614 439 1130

email escuela.microscopia@cimav.edu.mx

Haz de Iones Enfocado (Focus Ion Beam - FIB)

Se revisarán los fundamentos y aplicaciones de la tecnología de Haz de Iones Enfocado (FIB), con el fin de desarrollar en el alumno habilidades para la definición de metodologías en la preparación de muestras por esta técnica. La teoría de interacciones ion-sólido será introducida y utilizada para describir dichas metodologías en la preparación de muestras para SEM, TEM; AFM, Auger/XPS y SIMS. Otros tópicos como técnicas de fresado/deposición y caracterización analítica mediante FIB/SEM para nanotecnología son abordados.

Objetivo

Revisar los fundamentos y aplicaciones de la tecnología de Haz de Iones Enfocado (FIB), con el fin de desarrollar en el alumno habilidades para la definición de metodologías en la preparación de muestras por esta técnica, con el fin de resolver problemas relacionados con el estudio y caracterización de materiales.

Temario

Introducción a la instrumentación FIB

Interacciones físicas ion-materia

Simulación de interacciones iónicas - 2 horas.Práctica

Se requiere computadora portátil.

Obtención de imágenes con iones

Introducción a los instrumentos FIB y a las imagenes con iones - 2 horas.Práctica

Preparación de muestras para SEM

Preparación de muestras - 4 horas.Práctica

Re-deposición durante el fresado iónico

Preparación de muestras para TEM

Preparación de muestrasPráctica