Microscopía de Fuerza Atómica
Este curso proporcionará los fundamentos, conceptos y aplicaciones de la Microscopía de Fuerza Atómica, así como sus técnicas más importantes. El alumno podrá desarrollar habilidades en la definición de metodologías relacionadas con el estudio y caracterización de materiales.
Se abordarán tópicos relacionados con el mapeo y mediciones de propiedades eléctricas, magnéticas y mecánicas.
Se proporcionará una introducción a la caracterización de propiedades de superficie en la escala nanométrica a través de la interacción de una sonda de análisis con la superficie bajo estudio, por medio de la Microscopía de Fuerza Atómica, AFM. Para ello se abordarán los fundamentos físicos que permitan describir las fuerzas presentes en la interacción sonda-muestra, y los diversos métodos de análisis que proporcionan información no solo de las características topográficas de la superficie sino también físicas como la conductividad eléctrica, piezorespuesta, magnéticas, etc., a través del análisis e interpretación de imágenes y espectros, así como la asesoría en el correcto uso del Microscopio de Fuerza Atómica.
Temario
- Fundamentos del funcionamiento
- Principios Físicos de AFM
- Modos de Operación
- Sondas de análisis
- Operación de un AFM
- Modo Contacto
- Modo dinámico
- Modo no-contacto
- Preparación de muestras
- Selección de muestra
- Tipos de Montaje
- Alcances y limitaciones de las técnicas
- Instrumentación
- Buenas prácticas de Laboratorio
- Interpretación de Resultados
- Procesamiento de imágenes AFM
- Interpretación de imágenes de AFM
- Cálculos
- Casos Prácticos
- Análisis Topográfico (modo contacto y dinámico)
- Curvas de Fuerza
