Educación

Maestría en ciencias: Ingeniería de producción, Universidad Tecnológica de Berlín 2006. Especialidad: Microscopía óptica y microespectrofotometría. Desarrollo de técnicas de microscopía para aplicaciones industriales.

Patentes:

“Device for observing of wafer’s connections inside light emission diodes” US Patent 10,073,046 B2.

Publicaciones:

“Montecarlo’s Simulation for Quantitative Risk Assessments for Small and Medium Size Companies.”
Project Management Institute virtual library 2011(www.pmi.org)

Conferencias impartidas

“Smart Microscopy, La Historia detrás de las imágenes en aplicaciones no tan típicas” Escuela de Microscopía, CIMAV. Sep-2018, Chihuahua, Chih.
“Microscopia para aplicaciones geológicas”, Conferencia Internacional de minería, Abr-2018, Chihuahua, Chih.
“Casos de éxito Fondos para la Innovación Tecnológica CONACYT. Sector: Óptica, equipos y sistemas”. Semana Nacional del Emprendedor 2016, Oct-2016 México D.F.
“Microscopia en la ciencia de materiales y aplicaciones industriales”. Semana Académica UTCh Sur 2016, 6-Abril-2016, Chihuahua, Chih.
“Microscopia para ingeniería de materiales”. Congreso nacional de ciencias e ingeniería de materiales. Universidad Autonoma de Cd. Juárez. Mar-2015 Juárez, Mex.
“Innovation as competitive advantage for small business”. Technische Universität Berlin Innovation Seminar. Mar-2015 Boston, MA.

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