Doctor en Ciencias con especialidad en instrumentación optoelectrónica, sistemas de visión y procesamiento de imágenes; y Maestro en Ingeniería Electrónica.
Imparte diversos cursos en los programas educativos de Ingeniería Electrónica, Ingeniería Mecatrónica e Ingeniería Industrial, de la Universidad Autónoma de Baja California (UABC); así como en la Licenciatura en Nanotecnología de la Universidad Nacional Autónoma de México (UNAM).
Forma parte del Departamento de Nanoestructuras del Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN) de la UNAM, en la Unidad de Nanocaracterización como responsable de los sistemas de microscopía de fuerza atómica AFM XE-70 y AFM XE-BIO, además de realizar instrumentación electrónica para la caracterización nanodispositivos.
Cuenta con 3 publicaciones en revistas arbitradas, 8 ponencias en congresos y 2 capítulos de libro.

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