Se revisarán los fundamentos y aplicaciones de la tecnología de Haz de Iones Enfocado (FIB), con el fin de desarrollar en el alumno habilidades para la definición de metodologías en la preparación de muestras por esta técnica. La teoría de interacciones ion-sólido será introducida y utilizada para describir dichas metodologías en la preparación de muestras para SEM, TEM; AFM, Auger/XPS y SIMS. Otros tópicos como técnicas de fresado/deposición y caracterización analítica mediante FIB/SEM para nanotecnología son abordados.
Objetivo
Revisar los fundamentos y aplicaciones de la tecnología de Haz de Iones Enfocado (FIB), con el fin de desarrollar en el alumno habilidades para la definición de metodologías en la preparación de muestras por esta técnica, con el fin de resolver problemas relacionados con el estudio y caracterización de materiales.
